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製品情報

製品詳細

フーリエ変換赤外分光光度計

Nicolet iS50 / iS50R

型式:Nicolet iS50 / iS50R

ビームスプリッタ

iS50光源Polaris

ラピッドスキャン

薄膜評価

p-MAIRS

拡張性その1

拡張性その2

フーリエ変換赤外分光光度計(Nicolet iS50 / iS50R)

Nicolet FT-IR Spectrometer

  • フーリエ変換赤外分光光度計(Nicolet iS50 / iS50R)

製品概要

かつてない操作性と拡張性、リサーチグレードFT-IRの新基軸

フーリエ変換赤外分光光度計(Nicolet iS50 / iS50R)の特徴

FT-IRとは?

FT-IRの原理などについては、問題解決!ヤマト科学Q&A 「FT-IRとは?」をご覧ください。

目的に応じて仕様をカスタマイズ

Nicolet iS50/iS50Rは測定したい波数に応じて、装置内蔵の検出器を最大3台まで(外付け検出器含めて最大5台まで)搭載することが出来ます。さらにiS50 ABX(オートビームスプリッターチェンジャ、オプション)により効率的な測定が可能になります。

信頼性を徹底追及

標準搭載のPolaris赤外光源は10年保証の長寿命。また、干渉計は10年保証、レーザーは5年保証で、長期の安定稼働を提供いたします。


反応追跡および時間分解に対応可能なラピッドスキャン

iS50は最大95スペクトル/秒、iS50Rは130スペクトル/秒でスペクトル取得可能です。接着剤、印刷、インク、コーティング材など硬化反応の測定が可能です。


薄膜評価

金属基板上のLB膜、アルカンチオールのような自己組織化膜(SAM)のようなナノ薄膜測定にはPM-IRRAS(偏光変調高感度反射)が最適です。従来の高感度反射(IRRAS)と異なり、リファレンス基盤は不要で、大気バックグラウンドの影響を除去するのが容易です。



また、有機半導体や太陽電池で使用される基板表面の薄膜の分子配向が解析可能です。薄膜の面内(IP)・面外(OP)スペクトルを同時取得して、p-MAIRS(偏光多角入射分解分光法)によって分子の配向角が計算できます。




優れた拡張性

目的に応じた多種多様なアクセサリを搭載することができます。必要に応じてNicolet iN5赤外顕微鏡またはContinuµm赤外顕微鏡を装着することで、よりクオリティの高い故障解析、異物分析を行うことができます。



その他、熱分析装置と組み合わせた「TGA-IR」、ガスクロマトグラフィーTrace1310シリーズと組合わせた「GC-IR」、ラマンモジュールと組合わせた「FTラマン」、レオメータHAAKE MARSシリーズと組合わせた「Rhenaut」、など目的に応じたアクサセリを取り付けることで、様々な測定が可能です。




主な仕様

仕様


型式 Nicolet iS50 / iS50R
波数範囲 27,000 ~ 20 cm-1
波数分解能 0.4 cm-1
最高分解能 0.4 cm-1
S/N 55,000 : 1
測定波数範囲 27,000 ~ 20 cm-1
波数精度 0.01 cm-1 以上
高速スキャン回数(32cm-1 ) 95スペクトル / 秒
MCT検出器の液体窒素保持時間 18時間
外寸法(幅×奥行×高さ) 626×698×276mm
電源容量 AC100V 5.7A
重さ 60kg
価格(税抜) 7,130,000円~

メンテナンス・保証内容


光源、干渉計は10年保証