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様々な表面形状の観察または精密測定や薄膜成膜後の評価行う為の装置 半導体製造におけるエッチング後の品質管理に欠かせない触針式段差粗さ測定装置から、表面形状をオングストロームオーダーで観察出来る走査型プローブ顕微鏡、非接触表面形状測定装置、非破壊内部不良解析装置、デジタルマイクロスコープなど、様々な材料の微細表面形状及び内部不良を観察・測定出来る装置を各種取り揃えております。
原子間力顕微鏡 Cypher L+
原子間力顕微鏡 MFP-3D シリーズ
原子間力顕微鏡 Jupiter XR
原子間力顕微鏡 Cypher シリーズ
デジタルマイクロスコープ
卓上顕微鏡 TM4000シリーズ
コンタミネーション解析システム Cleanliness Expert
ターゲット断面試料作製装置 EM TXP
粒子分散ユニット Particle Disperser
白色干渉顕微鏡 VSシリーズ
細胞観察装置 BioStudioシリーズ
ハイブリッドレーザーマイクロスコープ OPTELICSシリーズ
電気化学反応可視化コンフォーカルシステム ECCS B310
紫外線硬化装置 ECS-1511U
紫外線硬化装置 ECS-4011GX/N
紫外線洗浄・改質装置 OC1801C10X
紫外線洗浄・改質装置 OC‐250615(6)X
UV-LED照射器 UELF385-11018-TW
X線電子分光装置 K-Alpha
X線電子分光装置 Nexsa
光波動場三次元顕微鏡 MINUK