紫外可視分光光度計（UV-Vis 分光光度計）、赤外分光光度計（FT-IR）、X線回折（XRD）などで用いられる最も基本的な測定手法の1つです。分光光度計やFT-IRの場合、紫外光、可視光、赤外光などの照射光I0をサンプルに照射して得られる透過光Iより、様々な分析が可能で、透過・吸収スペクトルを算出して、試料を定性・定量することが出来ます。特に、定量の場合、ランバート-ベールの法則（Lambert-Beer's Law）に基づき、得られる吸光度は濃度に依存します。一方、X線回折（XRD）の場合、電磁波の一種であるX線をサンプルに透過すると、ブラッグの法則（Bragg's Law）に基づいて、結晶内部の原子やイオンによってX線が回折されます。X軸で表される回折角（2θ）とX線強度の測定結果より、結晶内部の構造情報を得ることが可能です。