| 来る12月3日より幕張メッセにて開催されます「SEMICON JAPAN 2008」出展をご案内申上げます。 半導体を中心としたマイクロエレクトロニクスの製造を支える装置・材料産業の、世界を代表する総合イベントです。 ご多忙中とは存じますが、何卒ご来場賜りますよう宜しくお願い申し上げます 。 |
| 会場（展示ブース）のご案内 | ||
|---|---|---|
| 名 称 | SEMICON JAPAN 2008 | |
| 日 時 | 2008年12月3日（水）～12月5日（金） 3日間 10：00～17：00 |
|
| 場 所 | 幕張メッセ | |
| ヤマト科学（株）出展ブース | 5ホール（5A-101） | |
| 公式ホームページ | http://semiconjapan.org/sj-jp/index.htm | |
| 入場事前登録 |
|
|
| 出 展 内 容 |
|---|
| 1. 三次元計測X線CT装置 TDMシリーズ |  |
| 2. 大気圧プラズマドライクリーニング装置 | |
| 3. 多段式プラズマドライクリーニング装置PDC610 | - |
| 4. IC基板用枚葉自動プラズマクリーニング装置 (パネル展示) | - |
| 5. 遠赤外線オーブン (IRオーブン) | |
| 6. 段差・表面粗さ･微細形状測定装置P-6 (KLA-Tencor社製) | - |
| 7. 300mm対応 段差・表面粗さ･微細形状測定装置P-16＋Open Frame (パネル展示) | |
| 8. 非接触式三次元表面形状測定装置MicroXAM (KLA-Tencor社製) | |
| 9. 卓上顕微鏡TM1000（日立ハイテク社製） | |
| 10. デジタルマイクロスコープ KH-7700 (ハイロックス社製) | |
| 11. ウェーハ用薄膜ストレス測定装置 FLX-2320S (東朋テクノロジー社製、パネル展示) | |
| 12. 精密粒度分布測定装置Multisizer3 (ベックマン・コールター社製) | |
| 13. ポータブルデジタルマイクロスコープ DG-3（スカラ社製） | - |
| 上記装置のほとんどを実機展示いたします。 製品をご覧頂き、ご質問等ございましたら、説明員が実機を触りながら説明させていただきます。 お気軽にお立ち寄りください。 |
| 本件に関するお問い合わせ先 |
エレクトロニクスグループ |
|---|
