製品情報
型式：Elementシリーズ
ヤマト科学によるデモ対応可能！ 測定されたいサンプルのご相談も承ります
据置型SEM用EDSの性能を卓上顕微鏡へ
Si3N4ウィンドウで低エネルギーX線の透過率を最適化。
特に軽元素が高感度に分析可能です。
高いX線透過率
従来のポリマーウィンドウ検出器と比べて、Si3N4ウィンドウ検出器はX線計数率がアップしているため、マッピング速度、検出限界が向上しています。
ヤマト科学の全製品、及び一部取り扱いメーカーの製品カタログです。
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