製品情報
型式：SPECTRO ARCOS®（FHX3X）
鉄鋼・非鉄のベースメタル(Fe,Cu,Zn,Pb,Al)、研磨剤・触媒、ガラス等のレアアース(Ce,La,Nd)、レアメタル(Co,Ti,Ni)、貴金属(Au,Ag,Pt,Pd)の測定にも。
1.夾雑成分の多いサンプルでも高精度かつ高感度の測定が可能
（1）独自の光学系
（2）マルチビュー測光方式
2.マルチICPで唯一の塩素・臭素の分析が可能(130nm～のハロゲン)
1-（1）独自の光学系
（i）夾雑成分の多いサンプルを高精度で測定
ARCOSの特徴的な光学系(パッシェン・ルンゲ)
夾雑成分が多い時には発光線が重なることがあります。波長分解能があれば分離することができ、高精度の測定が可能となります。
波長分解能が低いとAsとCd分離出来ませんが、上記の通り分解能があるので高精度の測定が可能です。
1-（1）独自の光学系
（ii）高感度測定
シンプルな構造で光の減衰や迷光を最小限に抑えた光学系であり、検出器はCMOSアレイを搭載しています。広いダイナミックレンジの高速測定が全測定波長域で可能です。
CMOSセンサー
・ブルーミングが全く無い
・9桁のダイナミックレンジで最大濃度範囲をカバー
1-（2）マルチビュー測光方式
（i）夾雑成分の多いサンプルでも高感度の測定が可能
ICP-OESではサンプルに適した測光方式を選択できます。
感度、精度、メンテナンス性が変わってきます。
マルチ・ビュープラズマ測光では、完全なラジアル測光（SOP）、完全なアキシャル測光、デュアル・サイド-オン・インターフェース（DSOI）が一台の装置で対応可能です。
簡単に数分程度でラジアルの装置をアキシャルへユーザーで切り替えできます。
【3種類のプラズマ測光インターフェイス】
アプリケーションや使用目的に応じて、3種類のプラズマ測光インターフェイスから選択が可能です。
a）ラジアル測光 (放射光測光:SOP:サイド－オン・プラズマ）
・低いマトリックス干渉が特長です。
・オイル、添加剤等の夾雑成分が多い高マトリックス試料に適しています。
b）アキシャル測光 (軸方向測光:EOP:エンド－オン・プラズマ）
・微量成分(ppbレベル)の高感度の測定が可能です。
c）DSOI（デュアル・サイドーオン・インターフェース）
・ラジアル測光をベースとして、アキシャル測光と同等の高感度を実現します。
・受光側と反対側にミラーを配置、反転させ光量を増加させています。
2.マルチICPで唯一の塩素・臭素の分析が可能(130nm～のハロゲン)
ヤマト科学の全製品、及び一部取り扱いメーカーの製品カタログです。
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