文字サイズ

新着情報

2009年07月01日

第20回 マイクロマシン/MEMS展 出展のご案内


来る7月29日(水)~7月31日(金) [10:00~17:00]の3日間 東京ビッグサイトにて開催される 『第20回 マイクロマシン/MEMS展』をご案内申し上げます。

弊社ブースではマイクロマシン/MEMSの研究開発及び製造・不良解析等の分野で欠く事の出来ない 最先端装置をパネル展示致します。

ご多忙中とは存じますが、何卒ご来場賜りますよう宜しくお願い申し上げます。

 

会場(展示ブース)のご案内
名 称 第20回 マイクロマシン/MEMS展
日 時 2009年7月29日(水)~7月31日(金)
10:00~17:00
場 所 東京ビッグサイト
ヤマト科学(株)出展ブース 東5ホール №G-14
会場アクセス http://www.micromachine.jp/kaijyo.html
入場登録 来場事前登録よりご登録ください。無料にてご入場いただけます。

事前登録方法:
→ https://www.mmfcservice.com/micro2009/ja/regist/index.htm
展示会公式サイト

http://www.micromachine.jp/syutten.html


 

出 展 内 容


1. 三次元計測X線CT装置 TDM-1000

物質の内部構造を三次元映像化!! 科学計測・解析に必要な条件を高度に具備したX線CT装置です。 広範で多様な機能を有する画像処理ソフトを整合した新世代システムを提供します。

非破壊内部検査の常識を覆す業界最高レベルの解像度、高コントラスト画像を出力します。

内部構造解析、欠陥検出解析、開発、設計、試作、量産、品質管理に必要不可欠なシステムです。

今回の展示会において画期的オールインワン、コンパクトX線CT装置を発表します。


2. 段差・表面粗さ・微細形状測定装置 アルファステップIQ

段差・表面粗さ(あらさ)・微細形状測定装置アルファステップIQは、試作ラインや材料研究などのアプリケーションに最適で、プロセスの開発期間を短縮し歩留まりを高める事が出来ます。

ウエハ、MEMS、セラミック、SIMSのクレータ、マイクロレンズ、ディスプレイなどの様々な表面解析に必要な2次元解析の機能を標準装備しております。

本装置は、同一プロファイル上で1~3個所の段差及び幅の値を確認することが出来る『マルチアナリシス機能』を搭載しております。


3. 段差・表面粗さ・微細形状測定装置 P-16+(プラス)型

段差・表面粗さ(あらさ)・微細表面形状測定装置P-16+(プラス)型は、最大200mmのロングスキャン機能を有し、ウェーハ、薄膜ヘッド、マイクロマシニング、ディスクなどの様々な表面形状を、詳細な二次元及び三次元測定によって解析することが出来ます。

WindowsXPオペレーティングシステムの採用により、更に使いやすさが向上致しました。

APex2D・3Dの解析機能により、より高度なデータ解析が可能となっております。

*出展装置は予告無く変更する場合がございます。予めご了承下さい。

本件に関するお問い合わせ先

先端機器営業部 石井