半導体・電子部品・先端材料の高性能化や微細化が進む中、材料の微細構造観察、機械特性評価、ナノスケール形状解析、分子構造解析、結晶方位解析などの高度な評価が求められています。これらの評価技術は、研究開発、材料評価、品質管理、故障解析など様々な分野で重要性が高まっています。
本ウェビナーでは、最新の表面特性評価技術として、高速・高精度なSEM、AFM、ラマン分光、ナノインデンター、EBSDをご紹介するとともに、これらの装置を活用したアプリケーションや実際の評価事例について分かりやすく解説いたします。
皆様のご参加を心よりお待ち申し上げます。
| 開催日時 | 2026年4月8日（水）15:00～16:30 |
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| 会場 | ウェビナー形式（zoom） |
| 主催 | ヤマト科学株式会社 |
| 関連製品 | ・走査電子顕微鏡（SEM） ・原子間力顕微鏡（AFM） ・ラマン顕微鏡 ・ナノインデンター ・電子後方散乱回折検出器（EBSD） |
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| 講演1：「～高性能×高速化×拡張性！～最新SEMによる業務効率化のご紹介」 日本電子株式会 SI営業本部 SI販促室 中嶌香織 |
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| 講演2：「AFMとラマン顕微鏡の最新の観察・分析評価事例」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 イメージングアンドアナリシス事業本部 山田崇文 |
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| 講演3「～微小・薄膜試料も問題解決～ 最新技術によるナノインデンテーション試験法のご紹介」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 イメージングアンドアナリシス事業本部 倉地祥毅 |
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| 講演4「～今さら聞けないEBSD基礎講座～ EBSDによる結晶構造解析とは？」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 イメージングアンドアナリシス事業本部 中島里絵 |
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| 本件に関するお問い合わせ先 |
分析・計測機器営業部 |
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