異物は、製品ができるまでの様々な工程に存在し、製品不良の原因となり、異物の出所を探る必要があります。異物分析をすることにより、どのプロセスで異物が混入、付着したのか、原因究明の手助けとなります。また、最近では異物が微小化しており、異物分析には高度な技術が要求されます。
本ウェビナーでは、異物分析の最新アプリケーションからさまざまなアプローチについてご紹介いたします。皆様のご参加を心よりお待ち申し上げます。
開催日時 | 2025年3月6日(木)15:00~16:30 |
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会場 | ウェビナー形式(zoom) |
主催 | ヤマト科学株式会社 |
関連製品 | フーリエ変換赤外分光装置(FT-IR)Nicolet Summit X 微小部X線分析装置 XGT-9000 |
講演内容 | |
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講演1:「FT-IRを用いた実践的な異物分析テクニックのご紹介」 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 分光分析営業部 澤田寛己 |
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講演2:「微小部蛍光X線分析装置XGT-9000を用いた異物分析事例のご紹介」 株式会社堀場製作所 東京セールスオフィス 足立暁 |
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講演3:「SEM+EDSによる異物分析の基本及び解析事例のご紹介」 株式会社日立ハイテク 解析システム4部 山田学 |
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講演4:「SEM-EDSを使用した異物の自動、高速分析事例のご紹介」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 分析機器事業部 紫藤真由子 |
本件に関するお問い合わせ先 |
分析・計測機器営業部 |
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