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2025年02月05日

【3/6(木)開催】異物分析ウェビナー ~有機から無機異物まで最新アプリケーションを徹底解説!~


異物は、製品ができるまでの様々な工程に存在し、製品不良の原因となり、異物の出所を探る必要があります。異物分析をすることにより、どのプロセスで異物が混入、付着したのか、原因究明の手助けとなります。また、最近では異物が微小化しており、異物分析には高度な技術が要求されます。
本ウェビナーでは、異物分析の最新アプリケーションからさまざまなアプローチについてご紹介いたします。皆様のご参加を心よりお待ち申し上げます。

開催日時 2025年3月6日(木)15:00~16:30
会場 ウェビナー形式(zoom)
主催 ヤマト科学株式会社
関連製品 フーリエ変換赤外分光装置(FT-IR)Nicolet Summit X
微小部X線分析装置 XGT-9000
講演内容
講演1:「FT-IRを用いた実践的な異物分析テクニックのご紹介」
サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 分光分析営業部 澤田寛己
講演2:「微小部蛍光X線分析装置XGT-9000を用いた異物分析事例のご紹介
株式会社堀場製作所 東京セールスオフィス 足立暁
講演3:「SEM+EDSによる異物分析の基本及び解析事例のご紹介」
株式会社日立ハイテク 解析システム4部 山田学
講演4:「SEM-EDSを使用した異物の自動、高速分析事例のご紹介」
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 分析機器事業部 紫藤真由子

≫ご案内リーフレット(PDF)

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本件に関するお問い合わせ先

分析・計測機器営業部
TEL: 03-5548-7120