様々な分野において、微小領域における材料特性の研究や製品開発、そして不良・故障解析に使用されている走査電子顕微鏡（SEM）は広く活用されています。また、SEMによる観察はサンプルの試料作成の良否によって大きく結果が異なってしまいます。サンプル本来の評価をするためには、最適な試料作製が不可欠です。本ウェビナーでは、SEMの最新アプリケーションの紹介からSEMをさらに活用するための前処理技術の紹介をいたします。皆様のご参加を心よりお待ち申し上げます。
| 開催日時 | 2024年8月22日（木）15:00～16:30 |
|---|---|
| 会場 | ウェビナー形式（zoom） |
| 主催 | ヤマト科学株式会社 |
| 関連製品 | 粒子分散ユニット Particle Disperser |
| 講演内容 | |
|---|---|
| 講演1：「～大型試料をナノレベルまで観察！～最新の高分解能ショットキーSEM活用事例の紹介」 株式会社日立ハイテク 解析システム4部 田代靖晃 |
|
| 講演2：「～SEM断面観察の最前線！～イオンミリングを用いた最新の断面作製の事例紹介」 株式会社日立ハイテク グローバル営業企画部 振木昌成 |
|
| 講演3：「～試料作製のお悩みごとを解決！～ポイント徹底解説・機器ご紹介」 メッツ・ジャパン株式会社 営業部 技術統括 大月華奈子 |
|
| 講演4：「～粒子観察の前処理に革新！～粒子分散ユニットを用いた粒子観察の前処理技術」 株式会社堀場製作所 営業本部 足立暁 |
|
