製品情報
型式:EA8000
20 µm級の微小な金属異物を高速検出、自動元素分析
新たなX線透過法の開発により、電池電極板中から20 µm程度の微小金属異物の撮像時間を大きく短縮(3~10分)
高速に撮像した250×200 mmのX線透過像の全面に対して高速に画像処理を行い、異物ポイントを自動検出します。
自動検出された異物ポイントのみを蛍光X線マッピングし元素を自動で同定します。
電極板・有機フィルム内部に含まれる20 µm程度の微小金属異物についても元素同定できます。
金属異物の検出と道程が自動、しかも高速で可能なため作業効率がアップします。