ベクトル・ネットワーク・アナライザ │ SIGLENT（SNA5006X-E）の特徴

■ 製品概要

SNA5000X-Eシリーズ ベクトルネットワークアナライザ
SIGLENT SNA5000X-Eシリーズは、9 kHz～6.5 GHzの広い周波数レンジに対応した高性能ベクトルネットワークアナライザです。
2ポートSパラメータ測定、差動パラメータ測定、タイムドメイン解析に対応し、フィルタのQ値、帯域幅、挿入損失の評価をはじめ、インピーダンス変換、測定基準面の移動、フィクスチャシミュレーション、アダプタ補正など、多彩な解析機能を搭載しています。
また、リニア周波数スイープ、ログ周波数スイープ、パワースイープ、CWタイムスイープ、セグメントスイープの5種類の測定モードをサポート。SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Responseなどの校正方式に対応し、研究開発から生産現場まで幅広い用途で高精度な測定を実現します。

■ 高度な解析機能

SNA5000X-Eは、Sパラメータ測定および差動測定に加え、タイムドメイン解析（TDR）やスペクトラム解析などの先進的な解析機能を搭載しています。
周波数領域と時間領域の両面からデバイス特性を評価できるため、インピーダンス不連続点の特定や故障箇所の解析を効率的に行うことができます。
さらに、内蔵アイダイアグラム機能により高速デジタル信号のシグナルインテグリティ評価にも対応し、設計・開発段階でのデバッグ作業を大幅に効率化します。

■ フィクスチャ誤差補正機能

高周波測定では、ケーブルやフィクスチャの影響による測定誤差が避けられません。
SNA5000X-Eは自動フィクスチャ除去（AFR）、ポートエクステンション、デエンベディング、インピーダンス変換の補正機能を搭載し、より正確な測定を実現します。

これらの機能により、ケーブル損失や伝送遅延などの影響を効果的に除去し、被測定デバイス本来の特性を高精度に評価できます。

■ コンパクトで使いやすい設計

SNA5000X-Eは、研究開発現場や生産ラインでの使用を想定した省スペース設計（奥行き：約126 mm、重量：5.4 kg未満）を採用しています。

従来の据置型ネットワークアナライザと比較して設置スペースを大幅に削減でき、限られた作業環境でも快適に測定を行えます。
また、12.1インチの大型タッチスクリーンを搭載し、マルチウィンドウ表示や多彩な表示形式に対応。直感的な操作性により、測定から解析までを効率的に行えます。

■ 自動化・生産テストに最適

SNA5000X-Eは、生産ラインや自動試験システムへの組み込みにも適した豊富な自動化機能を備えています。
フィルタ解析機能では、ワンクリックで挿入損失、通過帯域幅、遮断周波数、リップル特性の主要パラメータを自動測定できます。

さらに、数式演算機能/SCPIコマンド制御/WebServerによるリモート操作に対応し、自動測定システムへの統合を容易に実現します。
測定の標準化と作業効率向上に貢献し、生産性の高いテスト環境を構築できます。

■ 充実した解析・表示機能

マルチウィンドウ表示
複数の測定結果を同時に表示し、効率的な比較・解析を実現します。


マルチフォーマット表示
対数振幅、位相、スミスチャート、極座標表示など、多様な表示形式に対応します。


メモリデータ比較
保存した測定データとリアルタイム測定データを重ね合わせて比較できます。


データホールド
測定データを保持し、詳細な解析やレポート作成を容易に行えます。


インピーダンス変換
異なる特性インピーダンス間の変換を簡単に実行できます。


数式エディタ
測定データに対して演算処理を行い、独自の解析結果を表示できます。


ポートエクステンション
ケーブル長や治具の影響を補正し、測定基準面を被測定物近傍へ移動できます。


エンベディング／デエンベディング
フィクスチャや接続部の影響を除去し、デバイス固有の特性を抽出できます。


タイムドメイン解析
周波数領域データを時間領域へ変換し、伝送路の不連続点や障害箇所を可視化します。


高度タイムドメイン解析（TDR）
高精度な反射解析により、インピーダンス変化や故障位置を迅速に特定できます。


スペクトラム解析
ネットワーク解析とスペクトラム解析を1台で実現し、多角的なRF評価をサポートします。

自動フィクスチャ除去（Automatic Fixture Removal）
フィクスチャの影響を自動的に補正し、被測定デバイス本来の特性を高精度に抽出します。測定時間の短縮と測定精度の向上を同時に実現します。