デジタル・オシロスコープ │ SIGLENT（SDS5038X HD）の特徴

■ 12-bit 高分解能

12-bitの分解能により、波形の細部までより鮮明に表示し、ノイズの影響を低減します。

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低ノイズフロア：1GHz帯域においてわずか125 µVrms
DCゲイン精度：±0.5%

■ 高速波形更新レート

最大 160,000 wfm/s の更新レートにより、低頻度で発生する異常信号も確実に捕捉。
Sequenceモードでは最大 650,000 wfm/s を実現。

■ ロングメモリ

ハードウェアベースのズーム機能と最大2.5 Gポイント(インターリーブ)のロングメモリにより、サンプリングレートを低下させることなく時間軸を拡大できます。これにより、長時間波形を取得した後でも、関心のある任意の箇所を高速にズームして詳細に観測することが可能です。

■ 多彩なトリガ機能

トリガ機能：エッジ、スロープ、パルス、ビデオ、ウィンドウ、ラント、インターバル、ドロップアウト、パターン、クオリファイド、N番目エッジ、セットアップ／ホールド、ディレイ、およびシリアルトリガに対応。幅広い強力なトリガ機能により、複雑なハードウェアの問題を簡単にデバッグできます。

■ トリガゾーン（Trigger Zone）

トリガゾーン機能により、より高度なトリガ設定が可能です。

■ 高度な演算機能

従来の四則演算（+, -, ×, ÷）に加え、FFT、フィルタ、積分、微分、平方根などの演算に対応しています。さらに、複雑な演算を実行できる数式エディタ（Formula Editor）を搭載しています。演算波形は最大4トレースまで同時表示可能です。

■ FFT機能

FFT機能は、最大8 Mptsの演算に対応しており、高速な更新レートを維持しながら高い周波数分解能を実現します。また、多彩なウィンドウ関数をサポートしているため、さまざまなスペクトラム測定ニーズに柔軟に対応できます。
さらに、3種類の表示モード（Normal、Average、Max Hold）を搭載しており、用途に応じたパワースペクトラム観測が可能です。オートピーク検出機能およびマーカー機能にも対応しています。

■ 豊富なパラメータ測定機能

測定カテゴリ：水平、垂直、チャンネル間遅延、その他、合計60種類以上の測定に対応。
指定ゲート区間での測定も可能。
Math／リファレンス／ヒストリ波形にも適用可能

■ 統計解析機能

統計機能では、最大12種類の測定パラメータについて、現在値、最大値、最小値、平均値、および標準偏差を同時に表示できます。また、ヒストグラム機能により、測定パラメータの確率分布を視覚的に確認できます。さらに、トレンド表示およびトラック表示では、測定パラメータの時間変化を表示できます。
周期などの時間軸（水平）パラメータについては、波形内の最初の1回分だけでなく、画面内に表示されているすべての測定対象から結果を抽出します。これにより、時間軸パラメータの統計処理を高速化するとともに、ヒストグラムやトラック機能を用いて、1画面内における測定値の分布状況を詳細に観察できます。

■ ヒストリ機能

常に有効なヒストリモードは、最大170,000の波形を収録できます。
ストップ後にスクロールして過去のイベントを分析し、異常をすばやく見つけることができます。

■ 検索＆ナビゲート機能

指定条件に基づいたイベント検索
検索結果を自動的にジャンプ表示
時間位置や履歴フレームによるナビゲーション対応

■ シーケンスモード

最大170,000セグメントの分割メモリ：

各トリガ波形とデッドタイム情報を保持
最小1.5 µs間隔で高速取得
ヒストリ機能で全データ再生可能

■ シリアルバスデコード

デコード結果をイベントリストとして表示し、バスプロトコル情報を表形式で直感的に確認できます。
対応プロトコル： I²C、SPI、UART、CAN、LIN、CAN FD、FlexRay、I²S、MIL-STD-1553B、SENT、Manchester、ARINC429。

■ 高速マスクテスト（ハードウェアベース）

ハードウェアベースのマスクテスト機能を搭載し、最大28,000回／秒の合否判定を実行できます。

ユーザー定義のテストテンプレートを容易に作成でき、波形とマスクの比較評価が可能。
これにより、長時間の信号監視や自動化された生産ライン検査用途に最適です。
※内蔵マスクエディタ搭載

■ ボード線図

USB AWGモジュールやSIGLENT製SDGシリーズ信号発生器との連携に対応。デバイスの振幅・位相の周波数応答を自動測定し、結果をボード線図として表示します。さらに、電源制御ループ応答（PSRR）の高精度測定を可能にするVari-levelモードを搭載しています。

■ 電力解析（オプション）

Power Analysisおよび**TPPA（3相電力解析）**オプションは、スイッチング電源やパワーデバイスの設計・評価に必要な各種電力測定・解析機能を提供し、測定効率を大幅に向上させます。
TPPAオプションを6チャネル／8チャネル・オシロスコープ、高電圧差動プローブ、および電流プローブと組み合わせることで、3相電力システムの包括的な解析ソリューションを実現します。
また、電力品質評価、効率測定、スイッチング損失解析、高調波解析など、電力システムやパワーエレクトロニクス分野における幅広いアプリケーションに対応します。

■ ワイドバンドギャップ半導体（SiC／GaN）評価ソリューション

6チャネル／8チャネルオシロスコープと光アイソレーションプローブの組み合わせにより、ワイドバンドギャップ半導体（SiC、GaN）の評価に最適な測定環境を提供します。
オシロスコープはピコ秒（ps）レベルの立上り時間を実現しており、SiCやGaNデバイス特有の高速スイッチング波形を高精度に捕捉できます。これにより、電圧および電流の過渡現象やスイッチング特性を詳細に解析することが可能です。
また、信号波形の形状、オーバーシュート、リンギングなどを観測することで、信号品質（シグナルインテグリティ）を評価し、回路設計の最適化に役立てることができます。

■ マルチチャネルタイミング試験と電源レール測定を一度に実現

最大8信号の電源投入（パワーオン）シーケンスを同時に捕捉できます。複数の信号を一括で測定できるため、測定時間を大幅に短縮し、作業効率を向上させます。
また、複数回の測定によって生じる誤差を低減できるため、マルチチャネルタイミング解析や電源レール測定をより高い精度で実施できます。特に、電源の立上りシーケンスや各信号間のタイミング関係を評価する際に有効です。