製品情報
リガク社独自の高輝度X線発源と高分解能X線カメラの組み合わせにより、サブミクロン領域が観察できるX線顕微鏡が誕生
・自社開発の安定性高い高輝度X線源(1.2kW)を搭載
・高感度高分解能X線カメラ(0.32µm/pixel)により短時間で高分解能画像を取得
・疑似平行ビーム方式により歪みの少ないシャープな画像
・試料に応じた特性X線で有機物、軽元素材料も高コントラスト観察
・位相回復ソフトウェアで更なる高コントラスト画像取得可能
・各種アタッチメントで“In-situ測定”
疑似平行ビーム+レンズ拡大方式により焦点移動に伴う分解能低下を低減
疑似平行ビーム方式(nano3DX)
疑似平行ビーム方式による近接撮影のため、 X線源のゆらぎの影響を受けにくい光学系
コーンビーム方式(従来方式)
拡大投影方式のため、X線源・試料のゆらぎが拡大され、像のブレを生む
観察試料・目的にあわせて選択できるX線エネルギーの異なる4種のX線源(W/Mo/Cu/Cr)
各線源による代表的なサンプル測定例
位相回復処理で更なる高コントラスト画像取得が可能
位相回復処理なし 位相回復処理あり
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