製品情報
リガク社独自の高輝度X線発源と高解像度X線カメラの組み合わせにより、サブミクロン領域が観察できるX線顕微鏡が誕生
・疑似平行ビーム光学系採用
・自社開発の1.2kW高輝度X線源(ターゲット材:Cr, Cu, Mo, W)
・特性X線による低ノイズ高コントラスト画像取得
・最小0.188μm/pixel、最大視野φ14.4mmの高解像度X線カメラ
・空間分解能 0.5μm(最小)
・位相回復ソフトウェアで更なる高コントラスト画像取得可能
・各種アタッチメント(加熱、冷却、圧縮、引張)を用いた“in-situ撮影”が可能
疑似平行ビーム+レンズ拡大方式により焦点移動に伴う分解能低下を低減
疑似平行ビーム方式(nano3DX)
疑似平行ビーム方式による近接撮影のため、 X線源のゆらぎの影響を受けにくい光学系
コーンビーム方式(従来方式)
拡大投影方式のため、X線源・試料のゆらぎが拡大され、像のブレを生む
観察試料・目的にあわせて選択できるX線エネルギーの異なる4種のX線源(W/Mo/Cu/Cr)

各線源による代表的なサンプル測定例

位相回復処理で更なる高コントラスト画像取得が可能
位相回復処理なし

位相回復処理あり

インスタントカフェオレの粉の3成分を判別
