AFMは先端径が数 nm に尖らせた探針を試料表面上で走査し、ナノレベルで正確な形状計測や物性マッピング測定を同時に行うことができます。
ここでは、AFMについての初歩的な概要と前処理を含めた測定ノウハウを含め、AFMで何ができるのかをご紹介します。
最後にAFM新製品をご紹介します。
| 開催日時 | 2021年7月29日（木）15:00～16:00 |
|---|---|
| 会場 | WEBセミナー（オンライン）形式となります。 開催日前日に、視聴用のURLをご案内いたします。 |
| 主催 | 株式会社日立ハイテク |
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