国際ナノテクノロジー総合展nano tech 大賞にて「評価・計測部門賞」を受賞 ナノテクノロジーの最大規模の国際総合展である「nano tech2009 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」が 2月18日(水)から20日(金)の3日間、東京ビッグサイトで開催されました。 弊社では軟X線ナノCT装置の実機展示を行い、併せて新エネルギー・産業技術総合開発機構(NEDO)の展示コーナーにて 平成20年度イノベーション実用化助成事業で開発中の軟X線ナノCT装置の成果発表を行いました。 会期最終日には、今回出展された企業・団体を対象にしたnano tech 大賞にて、弊社は「評価・計測部門賞」を受賞致しました。 弊社は今後も独創的かつ先駆的な技術を磨き、産業界に貢献できるものづくりに邁進していく所存です。 |
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「評価・計測部門賞」受賞 製品:軟X線ナノCT装置 |
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nano tech 評価・計測部門賞受賞式 | |
![]() 弊社展示ブース |
![]() NEDO産業実用化開発助成事業成果発表コーナー |
本件に関するお問い合わせ先 |
先端技術部 土屋 |
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