材料の高機能化や薄膜化が急速に進む中、従来の巨視的な試験や表面観察だけでは、性能の理由や不具合の原因を捉えきれないケースが増加しています。 本ウェビナーでは、ナノスケールの「表面構造観察」と「局所力学特性評価」をテーマに、最新の評価技術とその実践事例をご紹介します。 微小領域での硬さ・弾性率評価を支えるナノインデンターと、高精度なナノ計測を実現するAFMを活用し、薄膜評価の正確性向上やそれに伴うサンプル間比較の精度向上について解説します。 製品開発や品質保証、トラブルシューティングに携わる皆様に、材料評価の新たな視点と課題解決のヒントをお届けします。
| 開催日時 | 2026年11月25日（水）15:00～15:45 |
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| 会場 | ウェビナー形式（zoom） |
| 主催 | ヤマト科学株式会社 |
| 関連製品 | 世界最高分解能のナノインデンター i04 MEMSベースのスタンドアロン型ナノインデンター iX05 ナノメカニカルテストシステム NMT04 原子間力顕微鏡 Cypherシリーズ |
| 講演内容 | |
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| 近年、製品の高機能化や小型化に伴い、コーティング膜や機能性薄膜などの利用が幅広い分野で進んでいます。一方で、膜厚の薄膜化や材料の多様化により、従来の評価手法だけでは性能や不具合の要因を十分に把握できないケースが増えています。本講演では、低荷重制御を実現する「MEMS搭載ナノインデンター」による硬さ・弾性率評価や、高精度な「光干渉計搭載AFM」による微小領域の硬さ測定を例に挙げながら、各手法の特徴、評価時の留意点、実際の測定事例を解説します。また、従来難しかったナノインデンターによる1μm以下の薄膜の力学特性評価や、AFMによるサンプル間の力学特性比較の正確性を高めている最新技術を紹介し、材料開発や品質保証の現場における課題解決に向けたアプローチをご提案します。 | |
| 本件に関するお問い合わせ先 |
分析・計測機器営業部 |
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