原子間力顕微鏡（AFM）は1990年代初頭の実用化以来、学術から産業分野まで幅広く利用されています。近年は、段差・粗さ測定だけでなく、複合材料の弾性率や電子デバイスなど、多様な機能を活かした応用が広がっています。
本講座では、AFMを現在使用中またはこれから使用予定の研究者・技術者の方々を対象に、京都大学名誉教授・山田啓文先生を講師に迎え、AFMの深めの基礎、派生した測定機能、最新技術や将来の可能性について新年度も引き続き分かりやすく学んでいただきます。多くの方々にAFMを深く理解していただけることを願っています。
第4回目のテーマは「ナノ⼒学(2)：表⾯下計測・内部診断」です。
キーポイント：表⾯下構造の表⾯弾性への影響
フォーカス：内部診断計測
・表⾯下信号の起源（⾳響散乱vs 表⾯弾性変調）
・種々の内部診断⼿法
| 開催日時 | 2026年9月25日（金）15:00～16:00 |
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| 会場 | ウェビナー形式 |
| 主催 | オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 |
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| 本件に関するお問い合わせ先 |
分析・計測機器営業部 |
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