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原子間力顕微鏡（AFM）は1990年代初頭の実用化以来、学術から産業分野まで幅広く利用されています。近年は、段差・粗さ測定だけでなく、複合材料の弾性率や電子デバイスなど、多様な機能を活かした応用が広がっています。

本講座では、AFMを現在使用中またはこれから使用予定の研究者・技術者の方々を対象に、京都大学名誉教授・山田啓文先生を講師に迎え、AFMの深めの基礎、派生した測定機能、最新技術や将来の可能性について新年度も引き続き分かりやすく学んでいただきます。多くの方々にAFMを深く理解していただけることを願っています。

第2回目のテーマは「原子間力顕微鏡基礎 (2) – 測定感度と分解能  –」です。
・キーポイント：AFMにおける測定雑音
・フォーカス：熱雑音詳細
ファンデルワールス力雑音変調とバンド励起法
静的モードとダイナミックモードの対比
(FD-based AFM/Peak Force Tapping法との関連)

【講師】
公益財団法人京都技術科学センター副理事長 京都大学名誉教授　山田 啓文先生
～経歴～
・1982年 京都大学理学研究科物理学第一専攻修士課程修了
・通省産業省工業技術院・計量研究所研究員
・米国スタンフォード大学客員研究員
・工業技術院・産業技術融合領域研究所主任研究員
・京都大学工学研究科電子工学専攻助教授、同教授を経て現在、京都技術科学センター副理事長、京都大学名誉教授。科学と言語としての日本語との関係について思索に耽る傍ら、原子間力顕微鏡法に関する研究に相変わらず時々没頭。

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