製品の高性能化や微細加工技術の進展に伴い、材料特性を精密に解析する技術が求められています。本ウェビナーでは、半導体やエレクトロニクス業界をはじめとする製品開発や製造プロセスで求められる表面構造、化学特性、残留応力の解析が可能な製品、ならびに最新の活用事例を交えながら最先端技術をご紹介します。
皆様のご参加を心よりお待ち申し上げます。
| 開催日時 | 2025年1月29日（水） 15:00～16:00 |
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| 会場 | オンライン（Zoom） |
| 講演内容 | 講演①：「～成膜分野の品質管理に貢献！～ 薄膜応力測定装置FLXシリーズによる応力管理のご提案」 講演②：「～最先端のウエハ評価技術とは？～ AFMとラマンイメージングによる物性評価のご紹介」 |
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| 本件に関するお問い合わせ先 |
分析・計測機器営業部 |
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