日本電子株式会社とオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は「SEM用分析装置の新提案」をテーマとしたハイブリッドジョイントセミナーを開催します。
※本セミナーは、会場（後述）とオンラインのハイブリッド開催です。どちらも参加費は無料です。
＜開催概要＞
ここ数年に渡り、SEM用分析装置の新しいソリューションが続々とリリースされました。今回のハイブリッドセミナーではこのソリューションについて、装置と応用例をご紹介いたします。会場にご来場いただいたお客様は、ラボツアーとして、オックスフォード・インストゥルメンツの新しいラボルームをご見学いただけます。オンラインでご参加の場合は、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも視聴することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
| 開催日時 | 2023年10月24日（火） セミナー 13:15～15:50、ラボツアー 16:00～17:30 |
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| 会場 | 〒141-0001 東京都品川区北品川5丁目1番18号 住友不動産大崎ツインビル東館5F オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 ※ご好評につき会場（定員25名）は満席になりました。 これから会場参加をお申込みされる場合は、キャンセル待ちとなります。 会場参加をご希望の場合は、直接オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社にメールでお問合せください。 |
| 主催 | 日本電子株式会社、オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 |
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| 講演1：「電子顕微鏡ラインナップのご紹介」 日本電子株式会社 |
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| 講演2：「新型BEXイメージング検出器「Unity」のご紹介と応用例」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 |
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| 講演3：「In-situ加熱実験対応 EDS/EBSDと新型WDS分析システムのご紹介」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 |
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| 講演4：「SEMラマン分析システム RISEの原理と応用例」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 |
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| 本件に関するお問い合わせ先 |
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 分析機器事業部 E-mail: na-mail.jp@oxinst.com |
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