先端材料の実用化に向けた高精度計測と物性測定の高感度化をテーマに、走査型プローブ顕微鏡（AFM）＆走査型白色干渉顕微鏡（CSI）に関するセミナーを開催いたします。基調講演（以下2演題）を含め、最新の技術情報についてご紹介いたします。
【基調講演】
「プリンテッドエレクトロニクスによる最新の製造技術と評価」
国立研究開発法人 物質・材料研究機構
機能性材料研究拠点 プリンテッドエレクトロニクスグループ 三成 剛生 様
「AFMを用いた試料表面における微粒子の付着力の評価」
株式会社日立製作所 研究開発グループ 三羽 貴文 様
| 開催日時 | 2022年12月7日(水)13:30〜16:30 |
|---|---|
| 会場 | オンライン（WEBセミナー形式）開催となります。 開催日前日に、視聴用のURLをご案内いたします。 |
| 主催 | 株式会社日立ハイテク |
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