脆性破壊の原因となる水素を高感度に検出
試験温度-100℃～800℃/大気圧下で測定できる水素分析装置

昇温脱離型水素分析装置（PDHAシリーズ）の特徴

水素脆性研究に新しい視点を提供します

センサーガスクロマトグラフSGHA-P3は、試料ガス中の水素濃度を下限10ppbの低濃度で測定できるガス分析装置です。真空チャンバーは必要なく、大気圧環境下で昇温脱離分析が可能です。また、オプションの冷却機能を使用すれば -100℃~800℃の広い温度域での脱離水素を短時間で検出できます。金属の脆性破壊の原因となる水素放出量の分析に新しい視点を提供する、小型ガス分析装置です。

真空チャンバー不要/ 大気圧下での分析に対応

センサーガスクロマトグラフは検出機に半導体式ガスセンサーを使用しているので、大気圧下でのガス分析が可能で、真空チャンバーなどの大型の設備は不要です。前処理としての真空引きを必要としないため、常温近くで金属から放出される水素を損失することなく、より正確な昇温脱離試験データの取得が可能になります。

測定下限10ppb / 極微量の脱離水素を高感度に検出

オリジナルの小型カラムと半導体式ガスセンサーの組み合わせにより、低濃度の水素を高感度に分離、検出します。
測定下限は10ppb。常温に加えて、低温環境下で脱離する微量の水素も分析が可能です。

JIS K 0315:2022

本製品の微量ガス測定方法は、JIS K 0315:2022に規格化されています。

》詳細はこちら（経済産業省HPへリンクします）

-100℃~800℃ / 広い温度域での分析を可能に

冷却機能を使用すれば、-100℃の低温域から800℃の高温域まで、試験サンプルの環境温度を定速で昇温することができます。
低温域から高温域まで、幅広い温度域での昇温脱離試験を可能にします。

小型・簡便/ ポータブルな分析装置で短時間測定

試料ガスは自動サンプリングされ、短時間で測定します。
センサーガスクロマトグラフはB4サイズ、重さは5.5kgと小型軽量。
既存の昇温装置と接続も簡単で、場所を取りません。

測定原理

センサーガスクロマトグラフSGHA-P3 は超高感度の半導体式ガスセンサーを検出器に使用し、水素をppbレベルの低濃度から計測することが可能です。
サンプルガスは自動採取され、およそ2分間隔で連続測定されます。測定結果は標準装備のソフトにより、短時間でパソコン画面に表示されます。
※シリンジによる手動採取、マニュアル測定も可能です。

冷却機能付き昇温脱離試験装置の構成

ガス分析装置(SGHA-P3)単体での販売だけでなく、昇温炉とSGHA-P3がセットになった昇温脱離試験機（PDHA）も取り扱っております。
昇温設備が常温から高温域に対応したタイプ(PDHA-1000, 2000, 3000)と、冷却機能装備の低温域対応タイプ(PDHA-4000)をラインナップ。
PDHA-4000では、-100℃からの昇温脱離試験が可能です。

製品ラインナップ