製品情報
商品コード:538962
型式:SDG3082X
196 種類の内蔵任意波形とチャネルあたり最大 40Mpts のメモリ深度を備えた SDG3000X は、複雑な信号を保存して正確に再現する能力を提供します。また、柔軟なシーケンスモードを搭載しており、ユーザーは各波形セグメントの再生順序とループ回数を定義できるため、カスタムテストや反復テストシナリオに最適です。

120 MbpsまでのPRBS信号出力、250~50 MSymb/sのシンボルレートに対応したベースバンドおよびIF IQ信号生成、AM、DSB-SC、FM、PM、FSK、ASK、PSK、PWMなど広範な変調方式をサポート。内蔵のスイープおよびバーストモードにより、教育・研究開発から産業用パワーデバイス試験まで、多様なテスト環境を広範にサポートします。

ダブルパルステストは、IGBTやSiC MOSFETなどのパワー半導体デバイスの動的特性、特にスイッチング損失や導通特性を評価する上で極めて重要です。SDG3000Xは、この応用に理想的なプラットフォームを提供します。
チャネルトラッキングと位相同期により、ユーザーは現実的なスイッチング動作を模擬するためにパルス幅とタイミング間隔を精密に制御できます。USB/LAN を介したリモート制御やオシロスコープとの同期機能と組み合わせることで、SDG3000X は自動テストシステムの構築を簡素化し、テスト効率とデータ信頼性を向上させます。

SDG3000X EasyPulseテクノロジーはパルス信号生成に最適化されています。周波数変動にわたり安定した高速立ち上がり/立ち下がりエッジを備え、8nsという狭幅パルスを生成可能です。エッジタイミングとパルス幅の広範囲かつ微細な調整を可能とし、高精度パルス信号生成に理想的なツールです。

TrueArb は 10mSa/s から 600MSa/s のサンプリング範囲で点単位の波形生成を実現し、波形の完全性を維持しながら超低ジッタ(最小 150ps)と 0.075% 以下の全高調波歪み(THD)を実現し、優れた信号忠実度を確保します。
