低ノイズフロアと広いダイナミックレンジで正確な測定を実現。SNA6000Aシリーズ

ベクトル・ネットワーク・アナライザ｜SIGLENT（SNA6032A）の特徴

■ 製品概要

SNA6000Aシリーズ ベクトルネットワークアナライザ
SIGLENT SNA6000Aシリーズは、100 kHz～13.5 GHzおよび100 kHz～26.5 GHzの周波数レンジに対応した高性能ベクトルネットワークアナライザです。
2ポート／4ポートのSパラメータ測定、差動パラメータ測定、タイムドメイン解析に対応し、フィルタのQ値・帯域幅・挿入損失評価をはじめ、インピーダンス変換、測定基準面移動、リミットテスト、リップル解析、フィクスチャシミュレーション、アダプタ補正など、多彩な評価機能を搭載しています。
また、リニア周波数スイープ、ログ周波数スイープ、パワースイープ、CWタイムスイープ、セグメントスイープの5種類の測定モードに対応。さらに、SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response校正をサポートし、研究開発から製造・品質保証まで幅広い用途で高精度な測定を実現します。

■ 高ダイナミックレンジによる高精度測定

SNA6000Aシリーズは、135 dBを超えるダイナミックレンジを実現し、高精度かつ高信頼性の測定を可能にします。
大信号に埋もれた微小信号も高精度に測定できるため、高阻止減衰フィルタの評価、低挿入損失デバイスの測定、高性能RFコンポーネント解析、微小な特性変化の検出などの用途に最適です。
また、高いダイナミックレンジにより測定ノイズや信号歪みを低減し、校正精度の向上にも貢献します。ケーブルやアダプタなど外部要因の影響を最小限に抑え、より信頼性の高い測定結果を得ることができます。

■ マルチポート測定への柔軟な拡張

オプションのSSM（Switch Matrix）ユニットを使用することで、最大24ポートまで拡張可能です。
大型デバイスや多ポート製品の測定において、測定切替の自動化とスループット向上を実現し、試験工数や運用コストを大幅に削減します。
代表的な用途として、マルチポートアンテナ評価、RFフロントエンド試験、高周波モジュール評価、データコンバータインターフェース評価、生産ライン自動試験システムなどがあります。

■ タイムドメイン解析（TDR）

オプションのSNA6000-TDAおよびSNA6000-TDRにより、高度なタイムドメイン解析機能を利用できます。
時間領域反射測定（TDR）を用いることで、ケーブル障害位置の特定、コネクタ不良の検出、配線インピーダンス解析、伝送路評価を容易に実施できます。
さらに、高速デジタル回路の評価に不可欠なアイダイアグラム解析、ジッタ解析、シグナルインテグリティ評価にも対応し、高速通信機器やデジタルシステム開発を強力にサポートします。

■ パルスRF測定

SNA6000Aシリーズは、オプションによりパルスRF測定機能を追加できます。
実際の運用環境に近い条件で高周波コンポーネントを評価できるため、レーダーシステム、防衛・航空宇宙機器、通信機器、パルス動作アンプなどの開発・評価に最適です。
パルス駆動時のデバイス特性や高速スイッチング性能を高精度に測定し、実使用環境における性能評価を実現します。

■ 高度な校正機能

高精度なネットワーク測定には、適切な校正が不可欠です。
SNA6000Aシリーズは、26.5 GHzまで対応する機械式および電子式校正キットを幅広くサポートしています。
対応校正方式は、SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Responseです。
さらに、他社製校正キット対応、ユーザー定義校正キット対応、校正データのインポート機能を備え、お客様の既存資産を活かしながら高精度な測定環境を構築できます。

■ スペクトラム解析機能（SNA6000-SAオプション）

オプションのSNA6000-SAにより、スペクトラムアナライザ機能を追加できます。
VNA測定とスペクトラム解析を1台で実現することで、高調波解析、相互変調歪み測定、スプリアス評価、信号品質評価、通信信号解析を効率的に実施できます。
特に、高周波アンプ、発振器、無線通信機器、RFモジュールの開発および評価に大きな効果を発揮します。
機器の削減による省スペース化とコスト削減を実現しながら、より包括的なRF特性評価が可能です。

■ 充実した解析・表示機能

マルチウィンドウ表示
複数の測定トレースを同時表示し、効率的な比較・解析を実現します。


マルチフォーマット表示
対数振幅、位相、極座標、スミスチャートなど多彩な表示形式に対応します。


メモリデータ比較
過去の測定データと現在の測定結果を重ね合わせて比較できます。


データホールド
測定データを保持し、詳細な解析やレポート作成に活用できます。


数式エディタ
測定結果に対する独自演算や解析処理が可能です。


ポートエクステンション
測定基準面を移動し、ケーブルや治具の影響を補正できます。


エンベディング／デエンベディング
フィクスチャや接続部の影響を除去し、DUT本来の特性を抽出します。


タイムドメイン解析
伝送線路や配線系の不連続点を時間軸上で解析できます。


高度タイムドメイン解析（TDR）
反射特性を高精度に可視化し、障害箇所を迅速に特定します。


スペクトラム解析
周波数成分や不要信号の解析を効率的に実施できます。


スカラーミキサ測定
ミキサや周波数変換回路の特性評価を容易に行えます。


パルス変調解析
パルス動作デバイスの特性評価に対応します。


材料特性評価
誘電体や各種材料の電気特性評価をサポートします。


スイッチマトリクス測定
多ポートデバイスや自動試験環境に対応する柔軟な測定構成を実現します。