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製品情報

製品詳細

アイ スーパーキセノンテスター® 耐候性試験装置

XER-W83

型式:XER-W83

標準照度用試料枠

強照度用試料台枠

試料枠取付た装置本体の外観例 標準照度試料枠の場合

アイ スーパーキセノンテスター® 耐候性試験装置(XER-W83)

  • アイ スーパーキセノンテスター® 耐候性試験装置(XER-W83)

製品概要

試験デモや預かりサンプル試験のご相談を承ります
アイ スーパーキセノンテスター® は、光源は自然光に近似したキセノンランプを搭載しています。

アイ スーパーキセノンテスター® 耐候性試験装置(XER-W83)の特徴

  • JIS規格をはじめ、多様な規格に対応します。
  • カーボンアーク式と同等かそれ以上の促進性をキセノンランプ式で実施可能となりました。
    (照度やフィルター仕様により異なります)

①優れた相関性

キセノンランプとフィルターにより、太陽光の分光分布に最も近い条件で試験が可能
また、水スプレーや暗サイクルにより屋外暴露との相関性を向上させています。

②規格への対応

JIS K 5600-7-7塗料一般試験方法=促進耐候性(キセノンランプ法)や、JASOの強照度試験など様々な規格に対応

③複数枚を一度に試験可能

試料枠を選定することで、
 標準照度試験(20~100W/m²) ・108枚
 中照度試験(40~100W/m²) 90枚
 強照度試験(60~180W/m²) 54枚
の試験が可能です。

各種規格に対応したフィルターもオプションにて用意しております。



標準照度用試料枠



強照度用試料台枠




試料枠取付た装置本体の外観例
標準照度試料枠の場合

④操作・監視が容易

大型タッチパネルの採用により簡単に条件設定や、運転状況が確認でき、操作性が向上。
また、トラブルの発生時は、トラブルシュートによって、発見と対応が容易

⑤遠隔監視・操作機能(オプション)

オプションでLANネットワークからの遠隔操作が可能
リモートPCやタブレットにて試験経過や装置の状態の確認を簡単に実施可能

⑥クリーンで長寿命

光源にキセノンランプを採用する事で、カーボンアーク式と比較してクリーンで長寿命
メンテナンス作業の頻度や手間が軽減

⑦ASTM D 7869への対応品

高機能タイプXER-W83-A は、2013年にASTM(米国試験材料協会)が規定したキセノンアークランプ式耐候性試験の最新規格の一つである「ASTM D7869 輸送コーティング用の光と水への暴露を強化したキセノンアーク暴露試験のための標準的な方法」に対応

主な仕様

仕様


型式 XER-W83
光源 水冷式7.5kWキセノンアークランプ
光源部フィルター(インナー) 石英ガラス(オプション選択可能)
光源部フィルター(アウター) 硼珪酸ガラス(オプション選択可能)
試験方法 照射・照射及び噴霧・暗黒サイクルの各組合せが可能
照射時任意または暗黒前後にスプレー可能
放射照度/標準照度試料枠 制御範囲:20 ~70W(100W※1)/m2 制御方式:自動制御 測定波長範囲:300 ~400nm
放射照度/中照度試料枠 制御範囲:40 ~100W/m2 制御方式:自動制御 測定波長範囲:300 ~400nm
放射照度/強照度試料枠 制御範囲:60 ~180W/m2 制御方式:自動制御 測定波長範囲:300 ~400nm
均斉度 90%以上
試料枚数・有効照射面積/標準照度試料枠 108枚[70mm×150mm] 11340cm2 (BPTを含む)※2
試料枚数・有効照射面積/中照度試料枠 90枚[70mm×150mm] 9450cm2 (BPTを含む)※2
試料枚数・有効照射面積/強照度試料枠 54枚[70mm×150mm] 5670cm2 (BPTを含む)※2
温度制御範囲/照射時(BPT)※2 40~110℃
温度制御範囲/休止時(BPT)※2 25~95℃
湿度制御範囲/照射時 20~75%RH
湿度制御範囲/休止時 30~95%RH(但し設定条件による)
外寸法(幅×奥行×高さ) 1400×1600×1850mm
備考(寸法) (突起部含まず)
電源容量 17kW(三相3W,200V,50/60Hz) 入力電流:70A
重さ 800kg

備考
※1 100W使用時にはランプ寿命に影響する場合があります  ※2 BPT=ブラックパネル温度計