26.5GHz 2ポート・ベクトル・ネットワーク・アナライザSNA5000Aシリーズ

ベクトル・ネットワーク・アナライザ │ SIGLENT（SNA5032A）の特徴

■ 製品概要

SIGLENT SNA5000Aシリーズ ベクトル・ネットワーク・アナライザ（VNA）は、9 kHz～8.5 GHzおよび100 kHz～26.5 GHzの周波数レンジを備えています。
2ポート／4ポートのSパラメータ測定、差動パラメータ測定、およびタイムドメイン解析に対応し、フィルタのQ値、帯域幅、挿入損失などを高精度に評価できます。
また、インピーダンス変換、測定面補正（Port Extension）、リミットテスト、リップルテスト、治具シミュレーション、アダプタ除去／挿入補正など、多彩な解析機能を搭載しています。
測定モードは以下の5種類に対応しています。

リニア周波数スイープ
ログ周波数スイープ
パワースイープ
CWタイムスイープ
セグメントスイープ

さらに、SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Responseといった各種校正方式をサポートし、研究開発から製造・生産現場まで幅広い用途に対応します。

■ 低ノイズフロアと広いダイナミックレンジによる高精度測定

ダイナミックレンジとは、テストポートで利用可能な測定信号レベルと受信機ノイズフロアとの差を示し、VNAの性能を左右する重要な指標です。
SNA5000Aシリーズは、最大125 dBのダイナミックレンジ（@10 Hz IFBW）、-125 dBm/Hzの低ノイズフロアを実現しています。
これにより、フィルタの通過帯域特性と帯域外減衰特性を同時に高精度測定できるため、厳しいRF試験にも対応します。

■ 豊富な測定機能と多彩な表示形式

SNA5000Aシリーズは以下の測定機能に対応しています。

Sパラメータ測定
差動パラメータ測定
レシーバ測定
タイムドメイン解析
リミットテスト
リップルテスト
拡張タイムドメイン解析（TDR）

4ポート機種では全ポートのSパラメータを効率的に測定できるほか、トレースやウィンドウ追加用のショートカット機能も搭載しています。
表示形式は、Log Mag/Lin Mag/Phase/Group Delay/Smith Chart/SWR/Polar Chartなどに対応しており、透過特性、反射特性、VSWR、インピーダンス整合、位相および遅延の解析に役立ちます。
また、リファレンストレースやリミットテスト機能により、アンテナやフィルタの量産検査における生産性向上にも貢献します。

■ 拡張タイムドメイン解析（TDR）

TDRオプションは、TDR/TDT（タイムドメイン反射／伝送）解析およびアイダイアグラム解析機能を提供します。

TDR/TDT解析
伝送線路内のインピーダンス変化や不連続点を視覚的に表示し、コネクタ不良/ケーブル異常/基板配線不整合などの障害箇所を迅速に特定できます。
また、タイムドメインゲーティング機能により不要反射を除去し、DUT本来の特性解析を可能にします。

アイダイアグラム解析
内蔵パターンジェネレータにより、外部機器を追加することなくアイダイアグラムを生成できます。
さらに、プリエンファシス/ディエンファシス/イコライザの設定により、信号伝送品質をシミュレーション可能です。
ジッタ挿入機能も搭載しており、ジッタが信号品質へ与える影響を評価できます。

■ 材料測定ソリューション

SIGLENTは、研究機関、大学、製造現場向けに統合材料測定ソリューションを提供しています。
構成例：SNAシリーズVNA/MT材料測定ソフトウェア/KWR42A導波管校正キット

測定ウィザードが手順をガイドし、測定結果をさまざまな形式で表示・解析できます。
誘電率や材料特性の評価に最適です。

■ ゲイン圧縮測定

1回の接続、1回の校正で、周波数帯域全体にわたる線形・非線形特性を測定可能です。
リニアゲイン圧縮、最大ゲイン圧縮、バックオフゲイン圧縮、飽和圧縮の測定方式に対応しています。
複雑な試験条件にも柔軟に対応し、アンプや増幅回路の非線形挙動を詳細に評価できます。

■ スカラー／ベクトルミキサ測定

多様な周波数変換デバイスの特性評価に対応します。
サポートするスイープモード：リニア周波数スイープ/パワースイープ/セグメントスイープ

設定可能項目：RF入力レベル/LO入力レベル/アッテネーション

4ポートモデルはデュアル信号源を内蔵しており、内蔵第2信号源をLOとして利用/外部信号発生器の制御にも対応します。
さらにキャリブレーションウィザードにより、ミキサや周波数コンバータの高精度な評価を実現します。

■ マルチポート測定拡張

SSMスイッチシステムとの組み合わせにより、最大24ポートまで測定ポートを拡張可能です。
自動試験システムや生産ラインへの組み込みに最適で、試験時間短縮/設備コスト削減/高い自動化効率を実現します。

主な用途
アンテナ設計・評価・量産試験
データコンバータインターフェース評価
RFコンポーネント評価
自動テストシステム（ATE）

■ 多様な測定機能

マルチウィンドウ表示
複数の測定結果を同時表示し、効率的なデータ比較と解析を実現します。


マルチフォーマット表示
測定内容に応じて最適なグラフ形式を選択できます。


メモリデータとの比較表示
保存済みリファレンスデータと現在の測定結果を重ねて表示し、差異を容易に確認できます。


データホールド機能
測定結果を一時保持し、詳細な解析や比較を行うことができます。


インピーダンス変換
測定結果をさまざまなインピーダンス条件へ変換し、設計・評価を効率化します。


数式エディタ（Equation Editor）
測定データに対してユーザー定義の演算処理を実行できます。


ポートエクステンション（Port Extension）
測定基準面を任意位置へ移動し、治具やケーブルの影響を補正します。


エンベッド／デエンベッド解析
治具や配線の影響をモデル化し、DUT本来の特性を高精度に抽出します。


タイムドメイン解析
周波数領域データを時間領域に変換し、反射や伝送特性を解析します。


拡張タイムドメイン解析（TDR）
インピーダンス不整合や障害箇所を高い分解能で可視化します。


スペクトラム解析
周波数スペクトラムを表示し、信号成分や不要信号の解析を行います。
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スカラーミキサ測定
ミキサの周波数変換特性を簡単に評価できます。


ベクトルミキサ測定
振幅・位相を含むミキサの総合的な特性評価が可能です。


ゲイン圧縮測定
増幅器などの非線形特性を高精度に解析します。


パルス変調測定
パルス信号を用いたデバイス特性評価に対応します。
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材料測定
誘電率や透磁率など、材料特性の評価をサポートします。


スイッチマトリクス測定
多ポートデバイスの自動切替測定を効率的に実行できます。