断層画像収集から計測・解析まで1システムで完結

三次元計測X線CT装置（TDM1001-II）の特徴

樹脂などの軽元素材からアルミなど軽金属類のサンプルを対象とし、高速で高コントラストの画像を取得可能。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
ユーザビリティーを追求したTDMシリーズの普及型。
従来の工業用X線CTでは困難とされてきた軽元素微細複合体の非破壊観察を短時間で実現。

高い解像度・広いダイナミックレンジ

空間分解能：最高分解能0.5μmまで可能
コントラスト（階調）分解能：金属から軽元素複合素材まで鮮明な画像化が可能

高い寸法精度

高精度標準器で試料走査空間座標を校正

高速処理

独自のRawデータ収集＆画像再構成

三次元画像表示機能

立体画像と断面画像を同じフレームに表示する新機能により、試料の観察部位と画像上の位置対比が一目瞭然