大塚電子のコアコンピタンスのひとつである分光計測に関して、基礎から応用まで全3回でセミナーを実施します。
第1回のセミナーでは、分光計測の原理から分光データを得るまでをお話ししました。
第2回では、分光データから得られる情報として、可視領域では色演算によって色彩情報を数値化したり、異なる波長領域を使い膜厚解析によってnmオーダーの薄膜から数十μmの厚膜までの厚みを解析する方法などについて解説します。
開催日時 | 2022年5月11日(水)15:00~16:00 |
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会場 | WEB |
主催 | 大塚電子株式会社 |
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