English
中文
製品を探す
製品情報
製品関連コンテンツ
お客様サポート
製品カタログ
会社情報
採用情報
その他
様々な表面形状の観察または精密測定や薄膜成膜後の評価行う為の装置 半導体製造におけるエッチング後の品質管理に欠かせない触針式段差粗さ測定装置から、表面形状をオングストロームオーダーで観察出来る走査型プローブ顕微鏡、非接触表面形状測定装置、非破壊内部不良解析装置、デジタルマイクロスコープなど、様々な材料の微細表面形状及び内部不良を観察・測定出来る装置を各種取り揃えております。
HRX-01/RX-100
TM4000シリーズ
S9シリーズ
ライカCleanliness Expert
ライカ EM TXP ターゲット断面作製装置(EM TXP)
粒子分散ユニット
BioStudioシリーズ
OPTELICSシリーズ
電気化学反応可視化コンフォーカルシステム(ECCS B310)
紫外線硬化装置(ECS-1511U)
紫外線硬化装置(ECS-4011GX/N)
紫外線洗浄・改質装置(OC1801C10X)
紫外線洗浄・改質装置(OC‐250615（6）X)
UV-LED装置(UELF385-11018-TW)
K-Alpha X線光電子分光装置(K-Alpha)
Nexsa X線光電子分光装置(Nexsa)
